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可控硅损坏分析

分类:
公司新闻
作者:
西安瑞新
来源:
http://www.xarxdz.com/
2023/02/07 14:45
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评论:

     新年伊始,就有客户迫不及待的给我反馈机器停摆,要公司技术赶紧分析一下现场情况,瑞新技术在看了之后,小编整理了一篇文档供大家参考:

1. 现场反馈:

损坏后芯片照片

 

 

 

 

2. 坏情况:可控硅损坏的位置在门极整个区域,损坏的区域大且程严重!

3. 原因分析:

3.1 触发回路有强电信号(干扰信号或隔离出问题)串入,导致可控硅门极损坏。这是最大可能的原因!

3.2 元件的门极电流值偏大,导通不彻底 (同时有触发器功率小的),电流扩展不及,导致门极区域损坏。

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